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Inframet DT系统,红外热成像仪测试系统

 更新时间:2024-06-17 点击量:185

工作在中波红外及长波红外波段的红外热像仪在国家国防及安全部门具有重要的作用,对于红外热像仪的生产商,维修单位,科研院所以及最终用户等而言,红外热像仪的测试具有重要的意义。因此高技术的测试系统可以在生产,维修,培训,选型,科研等方面提供重要的帮助。

 

Inframet提供一系列不同版本的DT系统是受欢迎的红外热成像仪测试系统仪。 它可以用于实验室/仓库条件下的测试,非常适用于国际市场上提供的所有监控类型的红外热像仪,以及用于空间应用的长焦红外热成像仪。 DT系统可以测量所有重要参数,其采用垂直配置布局(黑体和靶轮位于平行光管的垂直方向的正上方),垂直化布局设计形成了高均匀性的热辐射投影系统且使得整套系统更加紧凑。

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INFRAMET还提供用于测试红外热像仪的其他系统:TAIM,TFEV, SIM, DTR, TCLIP, LAFT, WAP. SAFT

TAIM是一套特殊版本的DT系统,主要用于测试红外瞄准系统;

 

TFEV测温仪测试系统是模块化的专业测试系统,专门为发热筛查测温仪而优化。

 

SIM是一套相对简单且低成本的测试系统,主要实现红外热像仪的聚焦和分辨率测量。 SIM可以被视为一个简化版的DT系统。 DTSIM都是固定式系统,主要用于实验室/仓库条件下测试。

DTR是一套可以看做为使用了透射式平行光管的DT测试系统的版本,主要用于测试宽视场红外热成像仪。

TCLIP是一套红外瞄准镜快速轴对准测试系统。

LAFT是一套移动测试站,主要用于在野外/仓库条件下工作的监控型红外热像仪基本参数测试仪。

WAP是一套便携式广角投影系统,设计于测试宽视场的红外成像仪。 其小尺寸设计和轻质量结合是该系统的巨大优势。

SAFT是一套小型测试系统,主要用于测试短焦距的红外热像仪。 


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非均匀性校准

 

所有红外热成像仪均必须经过工厂校准,以生成非均匀性补偿(NUC)系数,然后由红外热像仪实时自动运算以保持良好的图像质量。 NUC系数通常基于大面积黑体的图像来计算,该黑体在两种温度下来充满被测试红外热像仪的视场:1)高温在约60℃至约120℃的范围内,并取决于红外热成像仪的类型。2)实验室环境温度(有时略微增加到约等于图像传感器温度)。


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Inframet提供DAP双黑体作为红外热成像仪非均匀性校准的低成本高效益解决方案。 DAP双黑体实际上是一组两个黑体:通常在高温下操作的TCB黑体和在接近环境温度下操作的PBB黑体。 以这种方式,DAP相当于两个黑体,通常使用两点NUC,但成本仅略高于典型的TCB黑体。 同时,实现了DAP黑体的两个发射器之间的超高精度温差。

 



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